半導(dǎo)體分立器件GJB33A-1997篩選檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

GJB33A-1997是軍用半導(dǎo)體分立器件的篩選檢測(cè)總規(guī)范，江蘇粵科檢測(cè)是專(zhuān)業(yè)第三方電子元器件二次篩選機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室具備GJB33A-1997標(biāo)準(zhǔn)CNAS檢測(cè)資質(zhì)和檢測(cè)能力，可提供半導(dǎo)體分立器件GJB33A-1997篩選檢測(cè)、二次篩選服務(wù)。

GJB33A-1997篩選檢測(cè)產(chǎn)品

功率FET、雙極性晶體管、IGBT、GaAsFET、微波晶體管、晶體管、二極管芯片、二極管、整流二極管等。

半導(dǎo)體分立器件GJB33A-1997篩選檢測(cè)項(xiàng)目

1. 內(nèi)部目檢（封帽前）；

2. 高溫壽命 非工作壽命（穩(wěn)定烘焙）；

3. 溫度循環(huán)（空氣~空氣）、浪涌、熱響應(yīng)；

4. 恒定加速度；

5. 粒子碰撞噪聲檢測(cè)；

6. 不穩(wěn)定沖擊試驗(yàn)；

7. 密封 （細(xì)檢漏、粗檢漏）；

8. 編序列號(hào)；

9. 中間測(cè)試 電參數(shù)；

10. 高溫反偏（HTRB）;

11. PDA的中間電測(cè)試和變化量；

12. 功率老練；

13. 終點(diǎn)測(cè)試；

14. X射線(xiàn)照相；

15. 目視檢查。

半導(dǎo)體分立器件GJB33A-1997篩選檢測(cè)報(bào)告辦理流程

1. 前期咨詢(xún)：提供需委托檢測(cè)項(xiàng)目、測(cè)試條件或測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；

2. 評(píng)估報(bào)價(jià)：根據(jù)檢測(cè)要求、樣品規(guī)格及參數(shù)評(píng)估報(bào)價(jià)；

3. 填寫(xiě)委托書(shū)：向優(yōu)科發(fā)起檢測(cè)申請(qǐng)，填寫(xiě)委托書(shū)（會(huì)有專(zhuān)人指導(dǎo)填寫(xiě)）；

4. 付款及提供樣品資料：按照協(xié)定報(bào)價(jià)支付費(fèi)用，按要求提供足夠數(shù)量的樣品及產(chǎn)品資料；

5. 安排檢測(cè)：按委托要求對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)；

6. 出具報(bào)告：依據(jù)檢測(cè)數(shù)據(jù)出具報(bào)告，將報(bào)告、發(fā)票及樣品回寄客戶(hù)。

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